編輯日期：2026-03-30

光譜范圍: 700 nm - 1700 nm 

　　SE 805是近紅外光譜橢偏儀，是在近紅外波段基于快速干涉調(diào)制探測的高性能光譜橢偏儀。SE 805使用步進(jìn)掃描分析器方式，調(diào)制光的強(qiáng)度在固定的分析器位置被測量，使用寬帶固體探測器。 

主要應(yīng)用 

　　·測量單層膜或多層膜的厚度和折射率 

　　·在近紅外波段測量材料的光學(xué)性質(zhì) 

　　·測量厚度梯度 

　　·確定材料成分 

　　·分析較厚的膜，厚度范圍可到30微米 

　　·適合測量In攙雜的半導(dǎo)體材料 (InP, InGaAs, InGaAlAs, InN) 

選項(xiàng) 

　　·近紅外光譜擴(kuò)展選項(xiàng)，700 - 2300 nm 

　　·計算機(jī)控制高性能消色差補(bǔ)償器 

　　·計算機(jī)控制起偏器 

　　·計算機(jī)控制自動角度計, 40o-90o, 精度0.01o 

　　·手動x-y載物臺，150 mm行程 

　　·電機(jī)驅(qū)動x-y載物臺，行程50 mm - 200 mm, SENTECH地貌圖掃描軟件 

　　·透射測量樣品夾具 

　　·攝象頭選項(xiàng)，用于樣品對準(zhǔn)和表面檢測 

　　·液體膜測量單元 

　　·反射式膜厚儀FTPadvanced, 光斑直徑80微米 

　　·微細(xì)光斑選項(xiàng) 

　　·自動對焦選項(xiàng)，結(jié)合地貌圖掃描選項(xiàng) 

　　·SENTECH標(biāo)準(zhǔn)樣片 

　　·附加許可，使 SpectrRay II軟件可以用于多臺電腦