FJ-5研究級金相顯微鏡是針對半導(dǎo)體工業(yè)、硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)、冶金工業(yè)需求而開發(fā)的,作為**金相顯微鏡用戶在使用時能夠體驗其**性能,可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、FPD、電路封裝、電路基板、材料、鑄件/金屬/陶瓷部件、精密模具的檢測。本儀器采用了反射和透射兩種照明形式,在反射光照明下可進行明暗場觀察和DIC觀察、偏光觀察。在透射光下作明場觀察。穩(wěn)定、高品質(zhì)的光學(xué)系統(tǒng)使成像更清晰,襯度更好。符合人機工程學(xué)要求的設(shè)計,使您在工作中感到舒適和放松。
特點說明
1. 采用了UIS高分辨率、長工作距離無限光路校正系統(tǒng)的物鏡成像技術(shù)。2. 拓展了物鏡的復(fù)用技術(shù),無限遠物鏡與所有觀察法相兼容包括明暗視野法、偏光法,DIC并在 每一觀察法中均提供高清晰的圖像質(zhì)量。 3. 采用非球面Kohler照明,增加觀察亮度。 4. WF10×(Φ25)超大視野目鏡,長工作距離明暗場金相物鏡。 5. 可插DIC微分干涉裝置的轉(zhuǎn)換器。
| 招標(biāo)產(chǎn)品 | 品牌/型號 | 招標(biāo)單位 | 中標(biāo)單位 | 中標(biāo)價格 | 中標(biāo)日期 |